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Microscope
显微镜
FSM探针显微镜FS探针显微镜
FSM探针显微镜

本款探针显微镜适应于半导体行业对晶圆的探测检测,除了适用于可见光以外, 紫外和红外也是可以应用。成像质量好, 透过率高。

本款探针显微镜匹配各种探针台对半导体行业对晶圆等工业领域的检测,除了适用于可见光以外, 紫外和红外也是可以应用,355nm, 365nm, 532nm, 1064nm光谱性能优异,对激光阈值高的必须跟厂家确认。成像质量好, 透过率高。